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思达科技推出先进Micro-LED集成测试系统

时间:2019-11-20 08:38:35        阅读量:1604

       

星麒麟莱先进高产微发光二极管测试系统

光学器件测试系统的领先供应商斯达科技公司(Starr Technologies)今天发布了新一代先进的高产量微led测试系统——斯达独角兽莱特。该系列测试系统是先进的微led集成测试系统,具有并行测试仪器、测试探针台和探针卡,适用于测试微led和微led,满足大规模生产的需要。

Starr unicorn-lait系统是一个先进的集成测试系统,可实现高性价比的led大规模生产。配备magic-a200e探针台,可对高达6英寸的晶片和探针卡校准进行自动检测测试。基于taurus-lpx并行测试仪,pmu(参数测量单元)可以并行测量48至240个发光二极管。系统架构具有执行效率,使星麒麟系列适合芯片制造商和发光二极管行业光学器件制造商的需求。

该系统配有电磁干扰屏蔽室,为高速发光二极管测试过程提供超低噪声环境。magic-a200e配置的闭环xyz平台和获得专利的同轴微镜确保多点led步进、高分辨率扫描和最佳检测精度。另外,多孔陶瓷夹具和专利辅助夹具易于清洗,可以进行接触检查,可以提高发光二极管测试性能。

Magic a-200e探针台配置闭环xyz平台和专利同轴显微镜

同时,taurus-lpx是具有不同电压和电流范围的高通量参数测量单元(pmu)。每个模块配有48个通道,最多5个模块。taurus-lpx基于fpga固件控制和高速adc,可以执行高速并行测试,以确保最高的测试吞吐量和良好的精度和重复性。

Taurus-lpx是一种高产的参数测量装置

Arista Capricorn aries-pct探针卡是一种长寿命微型led测试探针卡,具有多个待测器件。它可以接触多达48个发光二极管器件(多达240个),并可以用96个探针进行单触式测试。这种并行器件测试探针卡可以与cda一起设置,以去除和检测残余碎片和晶片颗粒。Led可以针对不同的器件测试要求进行配置,如vf、if等。,同时可以为esd器件测试配置特殊的高压探针。

用于待测随机器件的微led测试探针卡

斯达德首席执行官刘梁军博士表示,“斯达德自成立以来,长期专注于行业测试解决方案的研发。星麒麟-莱特测试系统是一个真正的测试挑战,满足微发光二极管和微型发光二极管的要求。它采用先进的测试探针台和并行参数测量单元,是专门为led器件设计和开发的检测和测试解决方案,可帮助客户降低测试成本,提高生产能力,以应对新一代器件的测试挑战。”

*免责声明:这篇文章最初是作者写的。这篇文章的内容是作者的个人观点。重印半导体行业观察只是为了传达不同的观点。这并不意味着半导体行业观察同意或支持这一观点。如果您有任何异议,请联系半导体行业观察。

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